autopano-sift-c autopano-sift-c - Implementação de detecção de recursos de sift.
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detecção característica Função de sift Detecção de recursos algoritmo de detecção Peneirar

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AutoPano-Sift-C - Implementação de Detecção de Recursos de Sift. O algoritmo de detecção de recursos de sift foi inventado e publicado por David Lowe na Universidade da Colúmbia Britânica.O algoritmo fornece a capacidade de identificar os principais pontos de característica dentro de imagens dentro de papel. Ele extrai ainda informações altamente distintas para cada ponto e permite caracterizar o ponto invariante para uma série de modificações na imagem. É invariante a alterações de contraste / brilho, para rotação, dimensionamento e parcialmente invariante para outros tipos de transformações. O algoritmo pode ser usado de forma flexível para criar dados de entrada para correspondência de imagens, identificação do objeto e outros algoritmos relacionados à visão do computador. O uso do algoritmo de Penário para a criação automática do panorama foi desenvolvido por Matthew Brown e David Lowe em seu papel "reconhecendo panoramas". O que há de novo nesta versão: · Esta versão contém muitas correções de bugs e melhorias de velocidade, além de suporte para identificação de recursos no espaço conformal.

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