Maud Uma ferramenta útil para analisar materiais e texturas
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Maud Classificação e resumo

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analisador difração refletividade Análise de difração

Maud Descrição

Maud representa análise material usando difração. É um programa geral de análise de difração / refletividade baseado principalmente no método Rietveld, mas não limitado a. Graças ao fato de que está completamente escrito na linguagem de programação Java, você deve ser capaz de executar facilmente Maud em uma variedade de sistemas. Principais características: Fácil de usar, cada ação é controlada por uma GUI Trabalha com raio X, Synchrotron, Neutron, Tof Desenvolvido para a análise Rietveld, multi espectros simultâneos e diferentes instrumentos / técnicas suportados AB-Initio Estrutura da Solução Integração, desde a descoberta de pico, indexando para resolver Algoritmos de otimização diferentes disponíveis (LS, evolutivo, recozimento simulado, metadinâmica) Le Bail encaixe Análise de fase quantitativa Análise de microestrutura (tensão tamanho, anisotropia e distribuições incluídas) Textura e análise de estresse residual usando parte ou espectros completos Meem e Algoritmo Superflip para Mapas de Densidade Electrônica e Montagem filme fino e multilayer ciente; Modelos de espessura e absorção de filme refletividade encaixe por modelos diferentes, de Parratt (matriz) a aproximação de origem discreta trabalha com imagens de difração e dispersão de elétrons Vários formatos de entrada de arquivos de dados Funciona e insira imagens de detectores 2D (placas de imagem, CCD) CIF Compliance para entrada / saída; Estruturas de importação de bancos de dados

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